电阻——电阻器的基本失效模型

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作者:朱晓明

电阻常见失效模式:

电阻器由于结构较为简单,工艺成熟,通常失效率相对较低。器失效主要表现为以下几种:

  1. 阻值漂移:老化后通常发生;(通过老化试验进行筛选,规避该问题)

  2. 开路:在受到瞬间过功率冲击的时候可能导致开路;(控制电阻的瞬态功率)

  3. 烧毁:长时间在的定功率以上时可能会发生烧焦甚至烧毁,一般为开路(控制电阻的稳态功率)

  4. 断线开路:线绕电阻器受到机械应力或者瞬时过功率冲击时可能发生;

  5. 引脚断裂:电阻器引脚不可反复弯曲;

  6. 焊接问题:超存储期、引出端氧化、镀层不佳、引出端严重不对称都可能导致虚焊等焊接问题。

  7. 硫化:这种电极一般是银钯合金。由于电阻表面的二次保护层和焊接端头不是严丝合缝的。导致面电极部分暴露在空气中。因此当空气中含有大量硫化气体时,银被硫化物反应成硫化银。由于硫化银不导电,所以随着电阻被硫化,电阻值逐渐增大,直至最终成为开路。

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